中国航天科工集团公司第一部关于元器件失效分析的科研专著———《元器件失效分析案例汇编》由二院201所于今年的全国质量月结束之际正式发布，为质量月增添了精彩的一笔。
　　电子元器件是组成型号装备指挥、控制及通信系统的基石，它的失效将对型号装备的可靠性产生严重的影响。为贯彻质量制胜战略，提升企业核心竞争力，2008年，201所在收集大量元器件失效分析案例的基础上，选取了自2004年～2008年间做的部分元器件失效分析案例513项，并将其中80项典型分析案例列入该《汇编》。这些失效分析案例包括集成电路、半导体分立器件、混合电路等元器件的种类，每一种类的元器件失效分析案例作为一个单独章节。该《汇编》还对元器件的固有可靠性和使用可靠性进行论述，强调充分开展电子元器件的失效分析，可有效提高元器件固有可靠性和应用可靠性，对提高整机产品的可靠性有着十分重要的意义。
　　该《汇编》还按照失效类别、失效模式及失效原因进行了综合统计分析，并针对元器件主要的失效模式和失效机理，从选用和使用方面，提出了预防失效的建议。
　　《汇编》本着从实际出发、与时俱进的宗旨，有所突破和创新，将塑封半导体器件的失效案例作为单独章节重点予以介绍。另外，201所失效分析研究室还依托本所的材料理化分析和无损检测中心，将材料学分析和元器件失效分析结合起来，把电子元器件管脚断裂失效涉及金属材料学、金相学、断裂力学等学科综合运用起来，并对这类案例作为单独章节列出。
　　该《汇编》的出版可以为从事元器件失效分析、元器件质量管理以及元器件研制、采购和整机设计人员控制元器件失效提供宝贵的技术指导，使读者从中汲取教训，受到启迪，收到“吃一堑、长一智”之效，对提高集团公司型号元器件的可靠性起到积极的推动作用。
　　201所失效分析研究室是集团公司元器件可靠性中心的核心实验室，是该所支撑性专业之一。该所成立以来，失效分析专业在场地、设备方面得到较大改善；技术队伍通过工程实践和磨炼，具备了较强的技术能力和工程经验。（文/质宣）
　　
　　（责任编辑：郝婧）